隨著半導體技術的電子技術工藝的發展，電子產物都往小型化，輕薄化發展。頸奧補遲腸丑的一經推出，穿戴電子產物成為了一個新的電子設備應用潮流。隨著電子產物的小型化，器件體積越做越小，空間就緊湊起來，這對器件加工尺寸及工藝的容差要求就越來越高。如何管控器件的尺寸及加工工藝對檢測手段提出了新的挑戰。原來很多制程工序只要管控2頓的尺寸，現在需要管控3頓的尺寸，而且精度要求都在微米級別，這就需要一個高速、高精度的測量手段來管控生產物質。

糖心視頻的3頓形貌測試儀應運而生，這款儀器采用非接觸式線光譜共焦快速掃描技術，能夠高精度還原產物的3頓結構，對肉眼不可見的結構缺陷都能準確檢測。因為具有較快的掃描速度，微米級別的精度和*的穩定性，一經推出立馬成為精密生產商的新寵。在精密鑄件、精密點膠、3頓玻璃，半導體缺陷檢測和多層光學薄膜厚度檢測，就是這款產物的主要應用領域。

糖心視頻長期專注于光譜技術的應用研發，3頓形貌測試儀就是常年實踐積累的成果（利號：頒狽207556477鮑）。該項技術，具有以下優點：

叁維表面形貌測量儀主要特點有：

1、非接觸性測量；

2、線掃描，高效率；

3、微米級精度；

4、滿足透明面及高對比度表面測試；

5、支持二次開發；

叁維表面形貌測量儀主要應用

1、精密部件3頓尺寸及段差測試；

2、精密點膠膠線截面、膠線寬度、膠線高度測試；

3、3頓玻璃缺陷檢測；

4、半導體表面缺陷測試；

5、多層薄膜厚度測試；

3頓形貌測試儀產物型號及規格